6月11日，2023慕尼黑廣州光學展(Electronica China)在廣州各國國際會展基地基地盛大開幕，此屆展銷會以“融成特色化、智引素”來源于題，合并半導體芯片、無源光電子元器件元件、智力網聯&新自然能源汽車的、調節器器、聯系器、開關按鈕、整車線束電纜線、供電、公測側量、數碼打印電路系統板、光學制作服務于、高級制作等客戶，創建從護膚品開發到app正式出臺的橫度家產前后左右游的專業技術工藝展示會網站，以特色化技術工藝加快國光學家產發展。

        普賽斯儀容儀表全力于半導電子元件芯片測驗儀精致設備的國內自主研發化，攜全款型半導電子元件芯片電使用性能測驗儀強勢股護膚品及半導電子元件芯片范疇從建筑材料、晶圓到電子元件測驗儀滿足方法出場每次展會上，引起繁多工程建設師和該行業男搭檔的前來考察體驗性溝通交流。

        各種測評測評是整電子設備第三產業品質管理操作的管用策略，半導體IC芯片跟據出產原則有差異 ，品質管理操作分成前道監測工具、中道監測工具和后道各種測評。前道監測工具稱之為為過程中的工藝監測工具，定向基層晶圓制作業，檢修光刻、刻蝕、bopp薄膜形成沉積、家電清洗、CMP等晶圓制作業原則后好產品代加工注意參數有沒有提高設計方案的不符合或長期存在應響良率弊病，偏斜電磁學性監測工具；中道監測工具定向基層比較好的裝封，以光學玻璃等非接觸到式策略面對重走線空間結構、凸點與硅通孔等晶圓制作業原則的品質管理操作；后道各種測評注意定向基層晶圓監測工具（CP，Circuit Probing）和樣品各種測評（FT，Final Test），檢修IC芯片耐磨性有沒有契合的不符合，偏斜電耐磨性監測工具。

        環繞光電器件的電使用使用性能檢測，普賽斯儀器智能儀表施工現場展現出了自動研發管理的源表系列的(SMU)、電輸入脈沖發生器激光恒流源 (FIMV)、超超高壓24v電 (FIMV、FVMI)、電輸入脈沖發生器激光恒壓源或者統計數據報告抓取卡五個類新產品，內容涵蓋瞬時工作電流源表、電輸入脈沖發生器激光源表、窄電輸入脈沖發生器激光瞬時工作電流源、智能家居控制插卡式源表、高高精密度的很大瞬時工作電流源、高高精密度超超高壓24v電、統計數據報告抓取卡等國產貨化電使用使用性能檢測儀器智能儀表，其相對穩相關性、是真的嗎性、共同性收獲比較廣泛的餐飲市場查驗。、

        精準定位再者代半導體技巧飛速快速發展下品牌面臨著的困局和桃戰，普賽斯儀器儀表副先生先生兼技巧創新技巧通過人王承與現場報道佳賓通過了太深要素的芻議。

SiC/IGBT功率半導體器件測試

        應對SiC/IGBT電子集成電路芯片在試驗英文試驗英文中存在的的測不許、測不全、安全的性、有效率低的的問題，普賽斯設備舉薦一些對于傳統化高更準度加數源表(SMU)的試驗英文試驗英文方法，享有可選的試驗英文試驗英文性能指標、更更準的自動檢測最終結果、極高的安全的性與更多方面的試驗英文試驗英文性能指標。具備高端電壓(3500V)和大電功率(6000A)性能指標、μΩ級導通電功率電阻精準自動檢測、nA級電功率自動檢測性能指標等的特點。的支持髙壓經濟模式下自動檢測電功率電子集成電路芯片結電解電解電容（電解電容器）器，如手機輸入電解電解電容（電解電容器）器、輸送電解電解電容（電解電容器）器、返向高速傳輸電解電解電容（電解電容器）器等。

GaN功率半導體器件測試

        爭對氮化鎵(GaN)有砷化鎵(GaAs)等文件構造的飛速電子器件的I-V檢測圖片圖片，普賽斯儀容儀表新一代 推新的CP品類電磁造成的恒壓源會提高效率怏速消除檢測圖片圖片瓶頸問題。物品包括電磁造成的電阻電流非常高可至10A、電磁造成的：寬度較大可低至100ns；不支持電流、電磁造成的四種電阻輸出電壓基本模式等特性。物品可app于GaN的自熱反應，電磁造成的S技術指標檢測圖片圖片等形式。

科學實驗議器滑道長坡厚雪，國內重復使用需求量猛烈。普賽斯電子儀表將保持不斷地創新性，不斷地帶動生產鏈鏈兩排游合作項目三級聯動，以比較好的產品與保障保駕護航企業客戶控制生產鏈保值增值，共赴可保持不斷地今后!